Publication detail
Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis
KOLÍBAL, M. PRŮŠA, S. BÁBOR, P. ŠIKOLA, T.
Czech title
Spektroskopie rozptýlených iontů o nízké energii jako metoda strukturní analýzy povrchů
English title
Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis
Type
journal article - other
Language
en
Original abstract
Paper dals with a low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. The ToF LEIS instrumentation is presented.
Czech abstract
Článek se zabývá spektroskopií rozptýlených iontů o nízké energii jako metoda strukturní analýzy povrchů a popisuje používané experimentální zařízení.
English abstract
Paper dals with a low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. The ToF LEIS instrumentation is presented.
Keywords in English
Ga, ToF, LEIS, structural analysis
RIV year
2004
Released
01.01.2004
ISSN
0447-6441
Journal
Jemná mechanika a optika
Volume
9
Number
9
Pages count
4
BIBTEX
@article{BUT42365,
author="Miroslav {Kolíbal} and Stanislav {Průša} and Petr {Bábor} and Tomáš {Šikola},
title="Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis",
journal="Jemná mechanika a optika",
year="2004",
volume="9",
number="9",
month="January",
issn="0447-6441"
}