Detail produktu

Metodologie měření povrchové kontaminace I

BÁBOR, P. POTOČEK, M.

Český název

Metodologie měření povrchové kontaminace I

Anglický název

Methodology of surface contamination measurement I

Typ

ostatní

Český abstrakt

Metodologie kontroly čistoty povrchů optických krystalů pro zakřivené optické povrchy umožňuje optimalizovat výrobu optických krystalů a dalších optických prvků, z hlediska čistoty povrchu, která má zásadní vliv nejen na optické parametry výrobků (transmisivita, odolnost při vysokých světelných výkonech). Umožňuje sledovat čistotu krystalů mezi jednotlivým technologickými kroky.

Anglický abstrakt

The methodology of controlling the surface cleanliness of optical crystals for curved optical surfaces allows to optimize the production of optical crystals and other optical elements in terms of surface cleanliness, which has a significant impact not only on the optical parameters of products (transmissivity, resistance at high light output). It allows to monitor the crystal purity between each technological step. Translated with DeepL.com (free version)

Datum vzniku

31.12.2024

Umístění

Ceitec nano - sdílené laboratoře