Detail publikace
Možnosti optického profilometru MicroProf FRT při měření kvality povrchu
PÁLENÍKOVÁ, K. OHLÍDAL, M.
Český název
Možnosti optického profilometru MicroProf FRT při měření kvality povrchu
Anglický název
Potentialities of optical profilometer MicroProf FRT for surface quality measurement
Typ
článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
Jazyk
en
Originální abstrakt
Principle, parameters and selected applications of the optical profilometer MicroProf FRT are presented.
Český abstrakt
Jsou prezentovány princip, parametry a vybrané aplikace optického profilometru MicroProf FRT.
Anglický abstrakt
Principle, parameters and selected applications of the optical profilometer MicroProf FRT are presented.
Klíčová slova česky
Optická metrologie, kvalita povrchu
Klíčová slova anglicky
Optical metrology, surface quality
Rok RIV
2005
Vydáno
01.07.2005
Nakladatel
SPIE - The internationalSociety for Optical Engineering
Místo
Bellingham, Washington, USA
ISBN
0-8194-5951-8
ISSN
0277-786X
Kniha
14 th Slovak-Czech Polish Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics
Časopis
Proceedings of SPIE
Ročník
5945
Strany od–do
59451O-1–59451O-6
Počet stran
6
BIBTEX
@inproceedings{BUT20933,
author="Kateřina {Brillová} and Miloslav {Ohlídal},
title="Potentialities of optical profilometer MicroProf FRT for surface quality measurement",
journal="Proceedings of SPIE",
booktitle="14 th Slovak-Czech Polish Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics",
year="2005",
volume="5945",
month="July",
pages="59451O-1--59451O-6",
publisher="SPIE - The internationalSociety for Optical Engineering",
address="Bellingham, Washington, USA",
isbn="0-8194-5951-8",
issn="0277-786X"
}